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RLE-SA06 晶体电光、声光、磁光效应实验
晶体电光、声光、磁光效应实验

RLE-SA06 晶体电光、声光、磁光效应实验

        晶体在电场、超声波、磁场的作用下会产生双折射效应,利用此效应可以测量相关物理量,也可以实现对光的相位和强度进行调制。晶体的电光、声光、磁光效应是最常见的三种调制现象,降光科技将这三个知识点融合在一起开发本实验,便于教师讲授相关知识点以及学生通过实验现象来横向比较实验原理。


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1.光源组件:

半导体激光器:输出功率0~4mW可调,中心波长520nm,单模光纤,芯径4μm,TEM00光纤接头FC/PC。带PD反馈衡功电路,功率稳定性<3%@3h。

2.电光晶体组件:

晶体类型:铌酸锂,3mm×4mm×35mm,双面溅射电极。

实验电源:0~600V可调,内置正弦信号0~5KHz,调制幅度0~3V可调。

3.声光晶体组件:

材料:TeO2,工作波长520nm,工作频率:100MHz,通光孔径2mm,衍射效率:≥80%@100MHz,

光透过率:≥90%,调制带宽:>1MHz; 射频连接方式:SMA;声光电源:电压24V,电流1A。

4.磁光法拉第旋光器:

通光口径2.5mm,中心波长:520nm,消光比@25℃≥30dB,旋光角度:45±3°,通过率:≥90%,损伤阈值:5J/cm2。

5.光学组件:

偏振片:Φ25.4mm,K9玻璃窗口,AR@400nm~700nm,消光比>100:1。石英波片:Φ25.4mm,石英晶体,光洁度Ⅲ级,精度:30″。

偏振分束立方:尺寸5×5×5,波长范围:400~700nm,偏振比>500:1,增透膜范围:400~700nm。

6.探测器组件:

可编程功率计:显示屏显示内容为测量波长、自动/手动量程模式、衰减窗口状态、当前功率测量档位;测量精度0.1μW,分辨率0.1μW,支持六挡量程;测量波长范围380nm~1100nm,功率测量范围0~200mW;提供实时功率显示,长期功率检测,并显示测量时长、测量时间内的功率变化曲线,提供最大值、最小值显示,可导出excel数据;USB2.0操作通讯接口。

光电接收模块:响应波长400nm~1100nm。音频信号输出:MP3,5V供电,含音箱。

7. 光纤准直器:

FC光纤接头,准直光斑直径为1mm,准直透镜镀单层增透膜,中心波长为587.6nm,R<1.5%@400~700nm。

8.机械组件:

精密光学导轨:L×W=1200mm×90mm,配套滑块、一维平移滑块、调节支座、支杆;高精度调节镜架。

9.实验手册及保修卡。


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